Workshop dell'Attività di Ricerca "Caratterizzazioni Strutturali e di Superficie'
Programma
| 10.30 |
Francesca Rossi Introduzione |
| 10.40 |
Giovanna Trevisi Highlights sulle attività SEM-FIB |
| 11.00 |
Lucia Nasi Materiali a diversa dimensionalità caratterizzati con tecniche di Microscopia Elettronica in Trasmissione: risultati e sviluppi recenti |
| 11.20 |
Claudio Ferrari Highlights sulle attività XRD |
| 11.40 |
Lucrezia Aversa Materiali 2D e nanostrutture a base di Carbonio caratterizzati con spettroscopie elettroniche di superficie |
| 12.00 |
Letizia Savio Tecniche XPS per l’analisi del vetro |
| 12.15 | Discussione, prospettive e conclusioni |
|
Presentazione nuovo holder TEM per misure in funzione della temperatura e della polarizzazione (Nasi). Presentazione del sistema SEM-CL in acquisizione all’interno dell’infrastruttura iEntrance@ENL (Rossi). |
Login [pagine riservate]
Intranet
Webmail
LinkedIn