Setup
Microscopio a scansione a effetto tunnel (CreaTec). Operante a bassa temperatura: 77 K (LN2) o 6 K (LHe). |
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Apparato da vuoto su cui è installato il LT-STM. Il microscopio è accoppiato ad un fascio molecolare supersonico. |
Metodologia
La tecnica STM si basa sul fenomeno quantistico dell’effetto tunnel, per cui si misura la corrente che passa tra un campione conduttore o semiconduttore ed una punta metallica posta a distanza atomica da esso. Acquisendo la lettura della «corrente di tunnelling» mentre la punta scansiona la superficie, si ottiene una mappa della densità elettronica della superficie stessa, che viene correlata alla sua morfologia. A seconda delle condizioni di misura utilizzate si ottengono informazioni su:
- Topografia della superficie con risoluzione atomica
- Mappe della LDOS di superficie
- Spettri localizzati spazialmente della LDOS intorno al livello di Fermi
- Manipolazione di singoli atomi/molecole
Highlights
Determinazione della morfologia superficiale
Dalla mappa della LDOS integrata della superficie si ricava la morfologia della superficie stessa, sia nel casi di superfici di metalli/semiconduttori che di strati ultrasottili (organici o inorganici) supportati. Negli esempi:
2) Self-assembly di acido glutammico su Ag(100). Refs: Langmuir 2010, Langmuir 2011, J. Phys. Chem C 2014.
3) OH/O/Ag(110), ottenuto mediante esposizione di O/Ag(110) ad H2O. Ref: Phys. Rev. B 2006.
Spettroscopia STS: misura della LDOS