Caratterizzazioni Strutturali e di Superficie
Referente: Rossi Francesca
Microscopia elettronica in trasmissione
   PER MAGGIORI INFO SU QUESTA TECNICA: Laura Lazzarini (laura.lazzarini@imem.cnr.it, tel 0521-269203)

 

Setup

TEM setup @ IMEM Parma

TEM JEOL JEM-2200FS con filamento a emissione di campo Schottky. Prestazioni:

  • tensione di lavoro: 80 kV, 200 kV
  • risoluzione di punto: 0.183 nm (TEM), 0.132 nm (STEM)
  • in column Omega filter
  • 2 rivelatori per High Angle Annular Dark Field (Z-contrast)
  • rivelatore Oxford (80 mm2) per spettroscopia e imaging EDX

 

Per la preparativa dei campioni:

preparativa campioni

1. Plasma cleaner Femto (Diener Electronic) ; 2. Duo-Mill Ion Milling System (Gatan) ; 3. Advanced Grinding and Polishing System Accura 102 (Metkon) ; 4. Precision Ion Polishing System (PIPS), Mod 691 (Gatan). La dotazione comprende anche una sega Buehler di precisione e un sistema Gatan Dimple Grinder.

 

Metodologia

colonna TEM
Nella modalità di lavoro TEM / HRTEM si utilizza un fascio elettronico parallelo che illumina una regione di interesse del materiale da analizzare, opportunamente assottigliato o in forma di nanostruttura. Dagli elettroni, trasmessi e diffratti, che hanno attraversato il materiale si ricostruiscono, attraverso un sistema di lenti elettromagnetiche, il pattern caratteristico di diffrazione elettronica e l'immagine del campione, in contrasto di ampiezza (brightfield) o di fase (alta risoluzione, HRTEM).
acquisizione EDX-HAADF-EELS
Nella modalità di lavoro STEM il fascio elettronico convergente viene pilotato in scansione su una regione di interesse (area, linea, spot). Un detector anulare consente la raccolta degli elettroni scatterati ad alto angolo - si parla di High Angle Annular Dark Field (HAADF) - utilizzati per la formazione di immagini a contrasto di numero atomico (Z-contrast).

 

In entrambe le modalità di lavoro, l'osservazione si avvale anche di tecniche analitiche:

  • spettroscopia EDX e mappatura chimica degli elementi. Un detector di raggi X posto al di sopra del campione consente la raccolta e la dispersione in energia della radiazione caratteristica emessa dal materiale, per indagini spettroscopiche, quantificazione della composizione ed imaging della distribuzione spaziale degli elementi.
  • spettroscopia da perdita di energia degli elettroni (EELS). Attraverso il filtro Omega presente in colonna, è possibile analizzare la dispersione in energia degli elettroni in seguito alle interazioni - elastiche (zero-loss) e anelastiche (e.g. ionizzazioni delle shell atomiche, core-loss) - con il materiale attraversato. L'acquisizione di spettri EELS e immagini filtrate in energia (EFTEM) è particolarmente interessante per lo studio dei modi plasmonici, dello stato di valenza di alcuni elementi (e.g. Fe in ossidi) e della presenza e distribuzione spaziale di elementi leggeri (e.g. C, N).

La microscopia Lorentz  (LM) consente di ottenere mappe della componente dell’induzione magnetica nel piano del campione perpendicolare all’asse ottico. Il metodo consiste nella ricostruzione della fase della funzione d’onda del fascio elettronico mediante il calcolo della derivata dell’intensità lungo l’asse ottico, a partire da una serie focale di immagini.
Gli esperimenti devono essere eseguiti spegnendo la lente obbiettivo per non modificare la microstruttura magnetica del campione in esame. Questo limita la risoluzione spaziale della tecnica a qualche nm.

 

Highlights

Tecniche TEM applicate a materiali magnetici

Le tecniche HR-TEM, STEM-HAADF e microscopia Lorentz (LM), insieme alla microscopia a forza magnetica (MFM-link), rappresentano un potente strumento per lo studio di materiali magnetici nanostrutturati. La combinazione di queste tecniche permette di correlare le proprietà del materiale su scala macroscopica con le proprietà strutturali e magnetiche alla micro- e nano-scala.

Analisi in sezione trasversale di film sottili di NiMnGa (7M) su Cr/MgO
Analisi in sezione trasversale di film sottili di NiMnGa. L'analisi strutturale mostra lo switch dell’asse di facile magnetizzazione “c” attraverso i twin boundaries (a, b, c). L'analisi magnetica mediante microscopia Lorentz consente la diretta visualizzazione dei domini magnetici su scala nanometrica (d).
Refs: Acta materialia 2020, Advanced Materials 2015
 
LM of NiMnGa disks
Linee di flusso magnetico in dischi freestanding di NiMnGa. Ref: Small 2018
 
 
LM of NiMnGa disks
Microscopia Lorentz di aggregati di nanoparticelle di Fe3O4. 
L'analisi dimostra le forti interazioni di tipo dipolare tra le nanoparticelle.  Ref: Nanoscale  2015
 

Tecniche TEM applicate a nanowires

Analisi di nanofili ad eterostruttura assiale InAs/InSb. (a) mappa EDX di un tipico NW (magenta: segmento di base InAs, verde: segmento centrale InSb, blu: In tip; (b–d) immagini HR-TEM e relative FFTs (insets). Ref: Nanomaterials 2020
 
Geometric Phase Analysis
Analisi di nanofili core/shell/shell InAs/InP/GaAsSb con diverso spessore della shell di InP. Alle immagini HR-STEM (a, d, g) viene applicata la metodologia di Geometrical Phase Analysis (GPA) per ricavare le mappe delle componenti di strain εxx (b, e, h) ed εyy (c, f, i). I grafici riportano l'andamento di εyy estratto da line profile attraverso le interfacce. Ref: Cryst. Growth Des. 2020
 
mappe ottenute tramite EFTEM
Mappe elementali ottenute con filtro in energia. Top line: analisi di nanofili di silicio porosi carbonizzati - Ref: Energy & Environmental Science 2017 Bottom line: analisi di nanofili core/shell SiC/SiOx - Ref: J Appl Phys 2019
 
immagini STEM di NWs eterostrutturati
Analisi STEM-HAADF di nanofili a eterostruttura radiale e assiale. Refs: Nanotechnology 2019, Nano Lett. 2018
 
silicio esagonale
Identificazione della fase esagonale in nanofili di Silicio. Ref: Nano Lett. 2013

Il Silicio in fase esagonale presenta caratteristiche ottiche molto promettenti, ma la sua identificazione mediante tecniche di TEM in alta risoluzione risulta difficile. Ci sono difetti nel silicio cubico, ad esempio l’impilamento di twin planari ortogonali alla direzione 111, che, visti lungo direzioni particolari, producono pattern che possono essere scambiati con quelli del polimorfo esagonale (in alto a sx). Mentre il diffraction pattern dei due casi è identico, l'immagine in alta risoluzione risulta molto diversa, come si vede dalle simulazioni in basso a sx. L’immagine sperimentale a dx, se confrontata con le simulazioni, consente di rimuovere ogni ambiguità e di identificare la fase esagonale nei fili di Si.


Spettroscopia TEM-EELS di risonanze plasmoniche in sistemi compositi di materiali nanostrutturati

Nanoscale mapping of plasmon and exciton
Analisi di tetrapods di ZnO ricoperti con nanoparticelle d'oro. (a) immagine STEM-HAADF, (b) immagine HRTEM, (c-d) analisi EELS. La risonanza LPR è maggiormente localizzata nella zona Au/vuoto (LPR 1), mentre il segnale NBE di ZnO si estende all’interno della particella  di Au (NBE 1). Le curve tratteggiate, ottenute dove non ci sono nanoparticelle, sono riportate per riferimento. Questo comportamento viene ben previsto anche dalle simulazioni.

Visualizzazione sperimentale dell’accoppiamento elettromagnetico tra la risonanza plasmonica (LPR) di una particella d’oro e l’eccitone (NBE) del supporto di ZnO attraverso le mappe di distribuzione spaziale delle due emissioni. Ref: Sci. Rep. 2016


Tecniche TEM applicate a celle solari multistrato

TEM analysis of solar cells

Analisi di celle fotovoltaiche 
a) Immagini STEM-HAADF di una cella solare a MQW III-V di terza generazione; b) Analisi di celle solari a base di CIGS. La figura riporta le immagini STEM-HAADF di alcune porzioni della cella e le corrispondenti mappe EDX degli elementi Zn, S, Se e In.


Tecniche TEM applicate a nanostrutture di carbonio

TEM analysis of hybrid CNS

Analisi di sistemi ibridi basati su nano-strutture di carbonio, nanoparticelle metalliche e ossidi metallici per applicazioni elettrocatalitiche. a) Immagine HR-TEM di una nanostruttura core-shell di cobalto@carbonio grafitico; b) Immagine HR-TEM di una nanostruttura di CNT/Pd@TiO2; c) Immagine STEM-HAAD e relative mappe EDX di sistemi di NanoHorns di carbonio@CeO2; d) STEM-HAAD e relative mappe EDX di sistemi di NanoConi di carbonio/Pd@TiO2. Refs: Sensors and Actuators B: Chemical 2017, CHEMSUSCHEM 2019, NATURE COMMUNICATIONS 2016CHEMICAL COMMUNICATIONS 2016

progetto NANOREDOX- PRIN 2017


Imaging TEM di materiali organici

immagini TEM su cellule

Imaging TEM (tensione di lavoro 80 kV) di cellule trattate con nanofili per applicazioni biomediche. Ref: Nano Letters 2014

immagini TEM di nanoformulazioni

Imaging TEM (tensione di lavoro 80 kV) di nanoformulazioni di interesse farmaceutico. Refs: Eur. J. Pharmaceutical Sci. 2018, Pharmaceutics 2019